Extended Defects in Semiconductors, (Record no. 28638)

MARC details
000 -الفاتح
حقل البيانات ثابتة الطول 00524nam a22001817i 4500
001 - رقم الضبط
رقم الضبط 28638
003 - محدد رقم الضبط
رقم الضبط tecl
005 - وقت وتاريخ اخر تعامل مع التسجيلة
رقم الضبط 20250525092542.0
008 - عناصر البيانات ثابتة الطول - معلومات عامة
حقل البيانات ثابتة الطول 250525b |||||||| |||| 00| 0 eng d
020 ## - الرقم الدولى المعيارى للكتب
الرقم الدولى المعيارى للكتاب 9780521819343:
040 ## - مصدر الفهرسة
لغة الفهرسة eng
قواعد الوصف rda
082 ## - رقم تصنيف ديوى العشرى
رقم الطبعة 23
رقم التصنيف 621.381
رمز الوكالة المخصصة لرقم التصنيف H7422
100 1# - المدخل الرئيسى - إسم شخصى
الشكل الأكمل للاسم Holt D.B,Yacobi B.G,
الدور Author.
245 1# - بيان العنوان
العنوان Extended Defects in Semiconductors,
بقية العنوان Electronic properties, Device Effect and Structures.
264 #1 - PUBLICATION, DISTRIBUTION, ETC. (IMPRINT)
مكان النشر United:
اسم الناشر CAMBRGE UNIVERSITY PRESS:
سنة النشر 2007:
300 ## - الوصف المادى
أبعاد الوعاء 25cm
942 ## - عناصر المدخل الإضافي( كوها)
مصدر التصنيف او مخطط الترفيف Dewey Decimal Classification
Koha [default] item type كتب book

No items available.

Powered by Koha